南京信息工程大學(xué)2019考研大綱:F41現(xiàn)代分析測(cè)試方法

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    南京信息工程大學(xué)2019考研大綱:F41現(xiàn)代分析測(cè)試方法
    科目代碼:F41
    科目名稱:《現(xiàn)代分析測(cè)試方法》
    第一部分:大綱內(nèi)容
    第一章 X射線衍射分析
    1. 了解X射線的性質(zhì)與X射線譜;掌握X射線與物質(zhì)的相互作用。
    2. 掌握布拉格方程的意義,了解勞厄方程。
    3. 理解影響X射線衍射強(qiáng)度的因素及產(chǎn)生衍射的條件。
    4. 了解X射線衍射儀的構(gòu)造,實(shí)驗(yàn)方法及樣品制備。
    5. 掌握X射線的物相定性分析方法。
    6. 掌握點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定方法。
    7. 掌握利用X射線衍射測(cè)定宏觀應(yīng)力及微觀應(yīng)力的方法。
    8. 理解X射線衍射在多晶體的織構(gòu)分析中的應(yīng)用。
    9. 了解利用X射線衍射測(cè)定晶粒大小的方法。
    10. 掌握小角X射線散射的基本概念及其應(yīng)用。
    第二章 電子顯微分析
    1. 掌握電子與固體物質(zhì)的相互作用;電子衍射的概念。
    2. 掌握透射電子顯微鏡的工作原理。
    3. 掌握透射電鏡中的電子衍射原理;常見(jiàn)的電子衍射花樣。
    4. 理解透射電鏡的圖像襯度理論。
    5. 了解透射電鏡的樣品制備方法。
    6. 理解高分辨電子顯微像的形成原理。
    7. 掌握掃描電鏡的結(jié)構(gòu)、工作原理;掃描電鏡的主要性能參數(shù)。
    8. 掌握二次電子襯度像的應(yīng)用;背散射電子襯度像的應(yīng)用。
    9. 掌握電子探針的工作原理,掌握電子探針?lè)治黾皯?yīng)用。
    第三章 表面分析技術(shù)
    1. 了解俄歇電子的產(chǎn)生過(guò)程;影響俄歇電子能力的主要因素。
    2. 掌握俄歇電子能譜分析及應(yīng)用。
    3. 掌握X射線光電子能譜分析方法及應(yīng)用。
    4. 了解掃描隧道電鏡的功能,掌握兩種掃描模式的特點(diǎn)。
    5. 掌握原子力顯微鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理,三種工作模式;了解原子力顯微鏡的應(yīng)用。
    6. 了解低能電子衍射原理及應(yīng)用,掌握二維點(diǎn)陣的倒易空間。
    第四章 熱分析技術(shù)
    1. 掌握熱分析技術(shù)的分類(lèi)。
    2. 掌握熱分析測(cè)量的影響因素。
    3. 掌握四大熱分析方法(差熱分析、差示掃描量熱分析、熱重分析、熱機(jī)械分析)的原理、特點(diǎn)及應(yīng)用。
    4. 了解熱分析技術(shù)的新發(fā)展。
    第五章 光譜分析
    1. 了解吸收光譜的分類(lèi)。
    2. 了解紫外光譜的產(chǎn)生過(guò)程、紫外光譜儀的結(jié)構(gòu)及測(cè)試原理。
    3. 掌握紫外吸收光譜分析及應(yīng)用。
    4. 掌握紅外光譜分析原理及應(yīng)用。
    5. 理解拉曼位移的概念,掌握拉曼散射光譜分析原理及應(yīng)用。
    第二部分:說(shuō)明
    1、基本要求
    《現(xiàn)代分析測(cè)試方法》課程的任務(wù)是重點(diǎn)掌握X射線衍射分析和電子顯微分析的基本概念、基本原理,掌握運(yùn)用X射線衍射和電子衍射進(jìn)行材料分析的基本方法,并使學(xué)生了解電子衍射與X射線衍射之間的區(qū)別與聯(lián)系,了解其它的常見(jiàn)材料研究方法,包括掃描電鏡、電子探針、俄歇電子能譜、低能電子衍射、掃描隧道電鏡等。
    2、分值比例
    考試方式為閉卷筆試??荚嚂r(shí)間為180分鐘,總分為150分。各章考題所占分?jǐn)?shù)大致如下:
    X射線衍射分析 約40%
    電子顯微分析 約40%
    表面分析技術(shù) 約5%
    熱分析技術(shù) 約5%
    光譜分析 約10%
    3、題型分布:名詞解釋、填空、簡(jiǎn)答、問(wèn)答、計(jì)算題。其難易度分為易、較易、較難、難四級(jí),每份試卷中四種難易度,試題分?jǐn)?shù)比例一般為2:3:3:2。
    4、其他規(guī)定:無(wú)
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